Переключиться на мобильную версию

Девушка с синдромом Дауна выйдет на подиум Недели моды в Нью-Йорке

Назад к разделу
18-летняя Мэдлин Стюарт всегда мечтала стать моделью, но никогда не задавалась целью превратиться в звезду Недели моды в Нью-Йорке (США).

Модель с синдромом Дауна примет участие в Неделе моды в Нью-Йорке
Модель с синдромом Дауна примет участие в Неделе моды в Нью-Йорке
instagram.com/madelinesmodelling_

Читай также: Диагноз не помеха: Как девочка с синдромом Дауна исполнила свою мечту

Австралийская модель с синдромом Дауна уже успела появиться в двух рекламных кампаниях для брендов спортивной одежды Manifesta и эко-сумок EverMaya. Теперь ей предстоит более сложная задача – продефилировать по подиму одной из самых значимых недель моды в мире. О своем участии в New York Fashion Week Мэдлин сообщила в Instagram: “Угадайте, кто пройдется по подиуму в Нью-Йорке в рамках Недели моды?“. 

Модель с синдромом Дауна примет участие в Неделе моды в Нью-Йорке
Модель с синдромом Дауна примет участие в Неделе моды в Нью-Йорке
instagram.com/madelinesmodelling_

Читай также: Белорусская модель с ДЦП: Красота не есть “красивость“

13 сентября мы сможем увидеть девушку на показе бренда FTL Moda. “С невероятной радостью и гордостью мы готовы объявить, что Мэдлин Стюарт примет участие в показе FTL Moda в рамках Недели моды в Нью-Йорке. Прекрасная Мэдлин украсит подиум в гостинице Vanderbilt Hall 13 сентября 2015 года“, – сообщили создатели бренда.

Напомним, модель с синдромом Дауна Мэдлин Стюарт снялась в модной фотосессии для бренда EverMaya.

Смотри в галерее фотографии Мэдлин Стюарт:

Комментариев (0)
Оставляя комментарий, пожалуйста, помните о том, что содержание и тон Вашего сообщения могут задеть чувства реальных людей, непосредственно или косвенно имеющих отношение к данной новости. Пользователи, которые нарушают эти правила грубо или систематически, будут заблокированы.
Полная версия правил
Осталось 600 символов
Реклама
Мы в соцсетях
Реклама
Реклама
Реклама
Для удобства пользования сайтом используются Cookies. Подробнее здесь